模式搅拌混响中的相关与谱密度函数——III. 测量

从模式搅拌场的测量扫描数据中提取了实验自相关和互相关函数及其相应的谱密度函数。利用第二部分中估计的谱矩，将这些结果与第一部分中导出的理论模型进行了比较。基于二阶 Padé 近似子的模型解释了谱密度函数的主要特征，包括其在搅拌直流附近的斜率、转折频率、搅拌直流到 Nyquist 的电平下降以及渐近谱密度。与单个搅拌扫描或其级联的谱密度相比，跨越次级调谐状态的系综平均减少了谱偏差和 RMS 谱波动。周期图法和基于相关的方法产生了几乎相同的结果。基于功率与基于场的谱密度之间的显著理论特征得到了实验验证。交换搅拌器和调谐器的角色，展示了搅拌效率对相关性和谱密度的影响。这种谱表征允许进行搅拌器诊断，这通过在低频下检测和识别测量搅拌谱中由电源谐波引起的 EMI 得到了证明。