中文

二维电子系统边缘的相关双电子添加

介观与纳米尺度物理 2021-06-30 v2

摘要

我们制备了横向尺寸大且低无序的基于量子阱的量子点,以研究向二维电子系统(2DES)的单电子添加。电子通过AlGaAs隧穿势垒从单个n+n+电极隧穿进入这些量子点。在稀释制冷机中使用单电子电容谱,我们识别出向量子点添加第一个电子的电容峰,并记录后续添加谱中的峰直至数千电子占据数。在此,我们报告在填充因子范围ν=2\nu=2ν=5\nu=5内、选择性探测向量子点边缘态的电子添加时所出现的两个显著现象:(1)库仑阻塞峰源于两个而非一个电子的进入;(2)在填充因子5/2处及附近、固定栅压下,这些双高度峰以h/2eh/2e的周期性均匀出现。在ν=2\nu=2ν=5\nu=5范围内的其他填充因子处,双高度电子峰的平均周期性仍为h/2eh/2e,但这些双高度峰进一步聚集成双高度峰对,峰对间距为h/eh/e。这种不寻常的双电子库仑阻塞峰暗示了一种新颖的配对隧穿效应,涉及量子点中出现的电子关联,其在ν=5/2\nu=5/2处的谱与先前仅在超导量子点中观测到的谱相同。

关键词

引用

@article{arxiv.2001.09913,
  title  = {Correlated double-electron additions at the edge of a two-dimensional electronic system},
  author = {Ahmet Demir and Neal Staley and Samuel Aronson and Spencer Tomarken and Ken West and Kirk Baldwin and Loren Pfeiffer and Raymond Ashoori},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2001.09913},
  year   = {2021}
}

备注

Added discussion to "bunching phenomena" section in supplement