利用硅自旋量子比特校正控制脉冲的片上失真

脉冲失真作为相干误差源之一，阻碍了对量子比特的表征与控制。在半导体量子点系统中，测量脉冲与控制脉冲上的失真会干扰实验结果，而目前尚未见有效的校准流程报道。在此，我们展示了两种利用双量子比特系统作为探测器来校准并校正失真的校准方法。这两种校准方法具有不同的校正精度与复杂度。其一为粗预失真（CPD）方法，该方法可部分缓解失真。另一方法为全预失真（APD）方法，通过该方法我们测量了传递函数并显著改善了交换振荡的均匀性。两种方法均以交换振荡均匀性作为度量，适用于任何以绝热脉冲（diabatic pulse）振荡的量子比特。借助APD流程，任意控制波形均可精确传输至器件，这对于表征量子比特与提升门保真度至关重要。