利用量子比特测量微波脉冲失真以提高量子门保真度
量子物理
2015-06-12 v1
摘要
我们提出了一种新方法，用于确定脉冲缺陷并提高超导量子比特中的单门保真度。通过施加连续的正向和反向 脉冲，我们放大了由微波脉冲失真引起的量子比特演化，这导致量子比特状态绕垂直于预期旋转轴的轴旋转。测量这些旋转作为脉冲周期的函数，使我们能够重构到达样品的微波脉冲形状。利用提取的响应对输入信号进行预失真处理，我们能够改善脉冲形状，并将平均单量子比特门保真度提高到 99.8% 以上。
引用
@article{arxiv.1211.2175,
title = {Improving quantum gate fidelities by using a qubit to measure microwave pulse distortions},
author = {Simon Gustavsson and Olger Zwier and Jonas Bylander and Fei Yan and Fumiki Yoshihara and Yasunobu Nakamura and Terry P. Orlando and William D. Oliver},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.2175},
year = {2015}
}