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基于扫描线探针的压缩感知显微术

图像与视频处理 2019-09-30 v1 计算机视觉与模式识别 信号处理

摘要

在扫描探针显微镜的应用中,图像是通过将点探针在样品上光栅扫描获取的。从压缩感知(CS)的角度看,这种逐点采样方案效率低下,尤其在目标图像具有结构时。虽然用离域的、不相干的测量替代点测量有可能将扫描时间改善数量级,但实现CS理论的离域测量具有挑战性。本文研究一种部分离域的探针构造,其中点探针被连续直线替代,形成一种本质上获取目标图像线积分的传感器。我们通过仿真、初步理论分析和实验表明,只要样品中局部特征间隔足够大,这些线测量比传统点测量能更高效地成像稀疏样品。尽管有此前景,从线测量进行实际重建带来额外困难:测量是部分相干的,且实际测量存在非理想性。我们展示如何利用自然策略(针对相干性的重加权、针对非理想性的盲校准)克服这些局限,最终给出端到端演示。

关键词

引用

@article{arxiv.1909.12342,
  title  = {Compressed Sensing Microscopy with Scanning Line Probes},
  author = {Han-Wen Kuo and Anna E. Dorfi and Daniel V. Esposito and John N. Wright},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1909.12342},
  year   = {2019}
}

备注

15 pages, 13 figures