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多晶金刚石涂层的综合形貌表征

材料科学 2021-03-19 v1

摘要

金刚石涂层的表面形貌强烈影响粘附、摩擦、磨损和生物相容性等表面性能。然而,对传统测量方法仅能捕获单一长度尺度,这阻碍了对多尺度形貌及其对性能影响的理解。本文使用透射电子显微镜表征四种不同的多晶金刚石涂层,以评估低至亚纳米尺度的粗糙度。然后利用功率谱密度(PSD)将这些测量与传统方法(触针轮廓仪和原子力显微镜)相结合,以表征所有尺度的形貌。结果证明了跨所有长度尺度测量形貌的关键重要性,特别是因为它们的PSD相互交叉,使得在较大尺度上更粗糙的表面在较小尺度上可能更光滑,反之亦然。此外,这些测量揭示了多尺度形貌与晶粒尺寸之间的联系,在平均晶粒尺寸处及略低于该尺寸时具有特征标度行为,而在其他长度尺度上呈现自仿射分形类粗糙度。在小的(亚晶粒)尺度上,未抛光表面表现出一种常见的残余粗糙度形式,其本质为自仿射,但难以用传统方法检测。这种从原子尺度到宏观尺度捕获形貌的方法被称为综合形貌表征,并且来自这些表面的所有形貌数据均已公开,供实验家和理论家进一步分析。在科学上,本研究的调查确定了多晶金刚石材料中形貌标度的四个特征区域。

关键词

引用

@article{arxiv.2103.10080,
  title  = {Comprehensive topography characterization of polycrystalline diamond coatings},
  author = {Abhijeet Gujrati and Antoine Sanner and Subarna R. Khanal and Nicolaie Moldovan and Hongjun Zeng and Lars Pastewka and Tevis D. B. Jacobs},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2103.10080},
  year   = {2021}
}

备注

13 pages, 6 figures