含硅纳米晶体的 SiOxNy(Si) 复合层的组分、结构与发光性质
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
本文展示了含硅纳米晶体的发光 SiOxNy(Si) 复合层的化学组分、结构与发光性质之间的关系。在具有相对较小硅过量（约 10 at.%）的窄化学组分区域内，观察到光致发光（PL）强度最大值位于 500-600 nm 处。通过高分辨透射电子显微镜（HRTEM）研究了复合层的结构。退火导致纳米晶体的出现，伴随 PL 强度显著增长（30-40 倍），但未改变 PL 光谱形状。通过 X 射线光电子能谱（XPS）技术确定了含过量硅原子的结构发光活性复合物的化学组分。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0511602,
title = {Composition, structure, and luminescent properties of SiOxNy(Si) composite layers containing Si nanocrystals},
author = {V. G. Baru and I. N. Dyuzhikov and V. I. Pokalyakin and O. F. Shevchenko and E. A. Skryleva and O. M. Zhigalina},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0511602},
year = {2007}
}