XPS应用中评估两级筒镜分析器传输函数的不同方法比较
仪器与探测器
2010-01-19 v1
摘要
通过采用三种既定程序，获得了对两级筒镜电子分析器传输-探测函数能量依赖性的三种不同评估。它们的相对优劣通过以下方式测试。首先，它们被用于校正清洁Cu、Ag和Au表面的原始XPS谱。接着，使用Tougaard方法扣除二次电子本底。最后，在定量XPS分析的现代形式框架内，通过峰面积测量重新分析由此得到的一次电子谱。理想情况下，应获得恒定的残差值。这些残差值随峰能量的变化，允许对初始传输-探测函数进行客观评级。
引用
@article{arxiv.1001.2980,
title = {Comparison of different methods for evaluating the transmission function of a two-stage cylindrical mirror analizer in XPS applications},
author = {Pierre Bracconi and Olivier Heintz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1001.2980},
year = {2010}
}
备注
29 pages