弱引力透镜与 X 射线盲巡天的联合分析

我们展示了来自 CFHTLS 和 XMM-LSS 巡天中 4 平方度区域的弱引力透镜与 X 射线联合分析。我们的弱引力透镜分析是首次利用 shapelets（新一代弱引力透镜分析方法）对真实巡天数据进行的分析。我们构建了图像的投影质量图，并提取了 6 个由弱引力透镜探测到的星系团。我们表明，其计数可用于限制功率谱归一化参数 $\sigma_8 =0.92_{-0.30}^{+0.26}$（对应 $\Omega_m=0.24$）。我们指出，尽管从透镜质量导出的质量 - 温度（M-T）关系通常观察到较大的离散度，但只要覆盖的质量范围足够大，利用中等数量的源即可获得对其斜率和归一化 $M_*$ 的严格限制。通过将 Bardeau 等人（2007）的星系团加入我们的样本，我们测得 $M_* = 2.71_{-0.61}^{+0.79} \times 10^{14} h^{-1} M_\odot$。虽然我们的测量主要受散粒噪声和样本方差主导，但与当前 favored 值一致，并为未来巡天奠定了基础。因此，我们研究了这些估计值对联合弱引力透镜和 X 射线巡天的规模、深度及积分时间的依赖性。我们表明，深场巡天应致力于研究星系团和星系群的物理性质。对于给定的曝光时间，宽场巡天能探测到更多星系团，因此更适合测量 $\sigma_8$ 和 $M_*$ 等宇宙学参数。我们指出，需要数百平方度的宽场巡天才能改进当前对这些参数的测量。覆盖 7000 平方度的更宏大巡天将在功率谱和 M-T 关系归一化的估计中提供 1% 的精度。