耦合大面积光子计数像素 ASIC 的细间距 CdTe 传感器的色散 X 射线成像
仪器与探测器
2015-06-11 v2
摘要
本文介绍了一种具有固有数字特性的创新 X 射线成像传感器。它基于色散光子计数技术。该探测器能够单独计数入射 X 射线光子，并根据其能量对它们进行分离（每次曝光获得两张“颜色”图像）。能量选择实时进行，并达到放射成像速度（全局计数率为 GHz 级）。光子计数、彩色模式以及极高的空间分辨率（在 MTF50 处超过 10 lp/mm）使得图像质量与吸收剂量之间达到最佳比率。成像系统的单个模块是一个双面可拼接的半导体辐射探测器，由薄的像素化 CdTe 晶体（传感器）耦合到大面积 VLSI CMOS 像素 ASIC 制成。已构建了 1、2、4、8 个瓦片单元。8 瓦片单元具有 25cm x 2.5cm 的灵敏区域。展示了通过对系统多种配置进行深入测试获得的结果和图像。该 X 射线成像系统是最近成立的 INFN 衍生公司 PIXIRAD Imaging Counters s.r.l. 的技术平台。
引用
@article{arxiv.1210.1248,
title = {Chromatic X-Ray imaging with a fine pitch CdTe sensor coupled to a large area photon counting pixel ASIC},
author = {R. Bellazzini and G. Spandre and A. Brez and M. Minuti and M. Pinchera and P. Mozzo},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.1248},
year = {2015}
}
备注
8 pages, 5 figures, 3 tables