镅氧化物的化学键合:X 射线光谱视角
化学物理
2023-03-17 v1 强关联电子
应用物理
摘要
通过镅浅核 ( 和 ) 边的 X 射线吸收光谱,研究了 Am 二元氧化物和 Am 掺杂 UO 中的电子结构与化学态。特别地,探测了 Am 态并分析了其与氧态成键的性质。实验数据的解释得到 Anderson 杂质模型 (AIM) 计算的支持,该计算考虑了由于 电子之间相互作用以及其与核空穴相互作用引起的完整多重态结构。以 Am 二元氧化物为参考体系,展示了 Am 和 X 射线吸收线分支比对 Am 化学态的敏感性。观测到的 Am 掺杂 UO 的比值表明,至少在低 Am 浓度下,镅在 UO 晶格中处于 Am(III) 态。为确认所应用 AIM 方法的有效性,还对 AmO 和 AmO 的 Am X 射线光电子能谱进行了分析,结果显示实验与计算间良好吻合。总体而言,AmO 可归类为电荷转移化合物,其 占据数 () 等于 5.73 个电子,而 AmO 更像是 Mott-Hubbard 体系,其 =6.05。
引用
@article{arxiv.2303.09247,
title = {Chemical bonding in americium oxides: x-ray spectroscopic view},
author = {S. M. Butorin and D. K. Shuh},
journal= {arXiv preprint arXiv:2303.09247},
year = {2023}
}