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镅氧化物的化学键合:X 射线光谱视角

化学物理 2023-03-17 v1 强关联电子 应用物理

摘要

通过镅浅核 (4d4d5d5d) 边的 X 射线吸收光谱,研究了 Am 二元氧化物和 Am 掺杂 UO2_2 中的电子结构与化学态。特别地,探测了 Am 5f5f 态并分析了其与氧态成键的性质。实验数据的解释得到 Anderson 杂质模型 (AIM) 计算的支持,该计算考虑了由于 5f5f 电子之间相互作用以及其与核空穴相互作用引起的完整多重态结构。以 Am 二元氧化物为参考体系,展示了 Am 4d3/24d_{3/2}4d5/24d_{5/2} X 射线吸收线分支比对 Am 化学态的敏感性。观测到的 Am 掺杂 UO2_2 的比值表明,至少在低 Am 浓度下,镅在 UO2_2 晶格中处于 Am(III) 态。为确认所应用 AIM 方法的有效性,还对 AmO2_2 和 Am2_2O3_3 的 Am 4f4f X 射线光电子能谱进行了分析,结果显示实验与计算间良好吻合。总体而言,AmO2_2 可归类为电荷转移化合物,其 5f5f 占据数 (nfn_f) 等于 5.73 个电子,而 Am2_2O3_3 更像是 Mott-Hubbard 体系,其 nfn_f=6.05。

关键词

引用

@article{arxiv.2303.09247,
  title  = {Chemical bonding in americium oxides: x-ray spectroscopic view},
  author = {S. M. Butorin and D. K. Shuh},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2303.09247},
  year   = {2023}
}