实验揭示的铜氧化物中不同来源的电荷载流子
超导电性
2007-05-23 v1
摘要
铜氧化物的霍尔系数数据表明，在较高的 值时，载流子数量超过外部掺杂量 ，并随温度变化。因此，Cu 位点上的自旋不守恒。热激发载流子的活化能等于费米面“弧”与 van Hove 奇点附近带底之间的能量。从边缘费米液体到赝能隙态的渡越发生在活化载流子数量与外部掺杂空穴数量相当的温度下。讨论了这对铜氧化物 相图的影响。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0607010,
title = {Charge carriers of different origin in cuprates as revealed by experiment},
author = {Lev P. Gor'kov and Gregory B. Teitel'baum},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0607010},
year = {2007}
}
备注
5 pages, 3 figures