像素串扰及 Bayer 图案影响的量子效率测量表征
光学
2024-03-21 v1 仪器与探测器
摘要
开发小像素以实现高分辨率图像传感器意味着诸多挑战。必须保证高性能，同时整体尺寸必须缩小，从而在设计和工艺上受限。一个关键参数是持续改进的知识与控制像素之间的串扰。在本文中，我们基于特定颜色图案设计和量子效率测量方法，提出了串扰表征的一种进展。首先，描述用于隔离单个像素或模拟未图案化彩色像素的颜色图案。这些图案已在测试芯片上实现并进行表征。第二部分涉及量子效率的表征设置。由于使用光谱测量，我们可以基于置于像素上方的颜色滤光器来区分像素，并通过波长变化导致的光子吸收长度变化，探测串扰随深度在硅中的情况。在最后部分，呈现结果，显示颜色滤光器图案的影响，即 Bayer 图案中的像素与未图案化像素之间的差异。也分析了串扰的方向和幅度，并与像素布局相关。
引用
@article{arxiv.2403.13404,
title = {Characterization of pixel crosstalk and impact of Bayer patterning by quantum efficiency measurement},
author = {Jérôme Vaillant and Clémence Mornet and Thomas Decroux and Didier Hérault and Isabelle Schanen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.13404},
year = {2024}
}