TRISTAN多像素硅漂移探测器的表征测量
仪器与探测器
2022-10-05 v3
摘要
惰性中微子是粒子物理标准模型的最小扩展。在实验室中搜寻该粒子的一种方法是通过氚β衰变，其中惰性中微子会引起扭结状能谱畸变。由多像素硅漂移探测系统扩展的卡尔斯鲁厄氚中微子（KATRIN）实验有潜力在实验室实验中达到对keV尺度惰性中微子前所未有的灵敏度。新探测系统结合了良好的能谱性能和高计数率能力。在这项工作中，我们报告了像素间电荷共享的表征以及47像素原型探测器在MAC-E滤波器中的调试。
引用
@article{arxiv.2111.14161,
title = {Characterization measurements of the TRISTAN multi-pixel silicon drift detector},
author = {Korbinian Urban and Marco Carminati and Martin Descher and Frank Edzards and David Fink and Carlo Fiorini and Matteo Gugiatti and Dominic Hinz and Thibaut Houdy and Pietro King and Peter Lechner and Susanne Mertens and Daniel Siegmann and Markus Steidl and Joachim Wolf},
journal= {arXiv preprint arXiv:2111.14161},
year = {2022}
}