低温下极化元件的表征

在亚开尔文温度下控制偏振态对于开发光谱技术至关重要，例如在混合方案中，光通过与电气线路同样容易安装的光纤输送并收集，但需要通过离散的偏振光学元件来补偿光纤中的失真。后者在低温下表征不良。因此我们将极化元件从室温冷却至4K，并监测其在整个温度范围内的偏振性能变化。我们测试了一个零阶半波板、一个偏振分束立方和一个二色性偏振器，在1.5μm的光通信波段进行测试。我们显示，在整个温度范围内，偏振保持在10^-4水平，这与光学材料的典型热收缩一致。该精度足够用于许多低温光学实验。我们认为，这些实验将允许设计用于低温表面的紧凑型光纤探针。