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基于粗粒度测量的玻色采样装置认证

量子物理 2016-01-13 v1

摘要

玻色采样装置能够高效地对经历多体干涉的无相互作用玻色子的输出概率分布进行采样。该问题不仅经典上难解,其解亦被认为经典上不可验证。因此,实验中的一大困难在于确保玻色采样装置正确运行。我们提出了一种实验友好的方案,基于粗粒度测量从量子玻色采样器中提取有用且鲁棒的信息。该流程可用于认证玻色采样装置的等价性,同时排除其他欺诈性装置。我们进行了数值模拟以证明该方法的可行性,并考虑了实际噪声的影响。我们的方法有望普遍适用于超出玻色采样问题的其他多体认证任务。

关键词

引用

@article{arxiv.1601.02627,
  title  = {Certification of Boson Sampling Devices with Coarse-Grained Measurements},
  author = {Sheng-Tao Wang and Lu-Ming Duan},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1601.02627},
  year   = {2016}
}

备注

8 pages including Supplemental Materials, 7 figures, 3 tables