玻色取样中电路缺陷的分析

玻色取样 (BosonSampling) 是一个量子计算机可提供可证明加速超越经典计算机的问题。其主要特征是无需完整的量子计算机，仅利用当前的线性光学技术即可解决。在本工作中，我们研究了实验上可行的玻色取样器 (BosonSampler) 是否能在无任何容错机制的情况下真正解决玻色取样问题。更具体地说，我们研究了与光学元件校准不完美相关的不可避免误差如何影响计算的最终结果。我们表明，每个光学元件的保真度必须至少为 $1 - O(1/n^2)$，其中 $n$ 指方案中的单光子数。这一要求似乎可以通过现有最先进设备实现。