抑制狭缝平均拉曼光谱中残余标准具伪影的校准技术
光学
2021-07-26 v1 仪器与探测器
摘要
背照式电荷耦合器件 (BI-CCD) 阵列提高了量子效率，但也放大了标准具效应，这是一种乘性的、依赖波长的固定模式效应。当合并来自数百行 BI-CCD 的光谱数据时，平均光谱通常看起来没有标准具效应。这可能会掩盖行级别上严重的标准具效应，即使 BI-CCD 已经过处理以抑制该效应。本文比较了两种标准具校正方法：一种是简单平均，另一种是使用荧光标准进行逐行校准。使用两个均由供应商进行粗糙化处理以减少标准具效应的 BI-CCD 阵列，采集了小鼠骨骼样本的拉曼光谱。对于其中一个阵列，在所选曝光条件下，标准具效应是噪声的主要来源，即使对于所有行的平均光谱也是如此；近红外激发的拉曼峰受到了明显影响。在这种情况下，逐行校准改善了平均光谱的光谱质量。另一个 CCD 的性能受散粒噪声限制，因此未能从额外校准中获益。不同的结果突出了在存在大荧光背景的情况下测量微弱拉曼信号时，检查并校正行级固定模式的重要性。
引用
@article{arxiv.2107.11213,
title = {Calibration technique for suppressing residual etalon artifacts in slit-averaged Raman spectroscopy},
author = {Christine Massie and Keren Chen and Andrew J. Berger},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.11213},
year = {2021}
}