双向平顶D-Scan：非线性波导的单光束精确表征
光学
2017-10-11 v1
摘要
首次通过平顶色散扫描（D-Scan）技术报道了三阶非线性集成波导的表征，该技术是平顶Z-Scan的时间类比。利用单激光束，并通过进行两次反向非线性传输以评估输入和输出耦合效率，描述了一种新程序，可精确测量TPA优值、有效双光子吸收（TPA）和光学克尔（包括符号）系数。该技术在硅条形波导中得到验证，其中有效非线性系数以的精度测量。
引用
@article{arxiv.1705.04452,
title = {Bi-directional top hat D-Scan: single beam accurate characterization of nonlinear waveguides},
author = {Samuel Serna and Nicolas Dubreuil},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.04452},
year = {2017}
}
备注
5 pages, 4 figures