通过偏移分析平面构型在KATRIN实验中降低本底
仪器与探测器
2022-04-13 v1 高能物理 - 实验
摘要
KATRIN实验旨在经过五年取数后以0.2 eV的灵敏度测量电子中微子质量。近期获得了0.8 eV(90% CL)的中微子质量新上限。为达到设计灵敏度，需要将本底率降低一个数量级。偏移分析平面(SAP)构型利用KATRIN主谱仪中电场与磁场的特定整形，将谱仪本底降低为原来的二分之一。我们讨论了SAP构型的总体思路，并描述了这一新型测量模式的主要特征。
引用
@article{arxiv.2201.11743,
title = {Background reduction at the KATRIN experiment by the shifted analysing plane configuration},
author = {Alexey Lokhov and Benedikt Bieringer and Guido Drexlin and Stephan Dyba and Kevin Gauda and Florian Fränkle and Ferenc Glück and Volker Hannen and Dominic Hinz and Susanne Mertens and Caroline Rodenbeck and Anna Schaller and Christian Weinheimer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2201.11743},
year = {2022}
}
备注
16 pages, 6 figures