电荷探测中的背动作用
介观与纳米尺度物理
2025-03-06 v1 强关联电子
摘要
电荷探测提供了一种探测亚波长结构的强大方法，但不可避免地导致测量背动作用 (MBA)。如果 MBA 强烈，则可能损害被探测的物理性质。本文聚焦于 MBA 对 Anderson 杂质模型的影响，其中杂质与探测器通过电容耦合。引入一种新型非微扰方法，我们探讨了相干动力学、强相关性和非平衡条件之间的相互作用。MBA 的影响最清晰地体现在占据数的温度导数。在非平衡情况下，我们识别出这种现象源于探测器与杂质之间的能量流。
引用
@article{arxiv.2503.03416,
title = {Back-action effects in charge detection},
author = {Sarath Sankar and Matan Lotem and Joshua Folk and Eran Sela and Yigal Meir},
journal= {arXiv preprint arXiv:2503.03416},
year = {2025}
}