STEM-EELS中带隙映射的自动化方法
材料科学
2018-10-22 v2
摘要
薄膜结构、跨晶界以及嵌入式纳米颗粒中的带隙变化在材料科学界日益受到关注。由于许多测量带隙的常用实验技术缺乏直接观察这些变化的空间分辨率，配备单色化电子能量损失谱(EELS)的探针校正扫描透射电子显微镜(STEM)是研究此类特征带隙的一种有前景的方法。然而，从EELS数据集中提取带隙通常需要大量用户参与，使得大数据集的分析具有挑战性。本文我们开发并提出了从大型STEM-EELS数据集自动提取带隙图的方法，同时保持高精度与高准确度。
引用
@article{arxiv.1705.00342,
title = {Automated approaches for band gap mapping in STEM-EELS},
author = {Cecilie S. Granerød and Wei Zhan and Øystein Prytz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.00342},
year = {2018}
}