少层黑磷及其重构边缘的原子尺度成像
介观与纳米尺度物理
2017-02-01 v1
摘要
黑磷(BP)近年来因其可调带隙和高载流子迁移率等引人入胜的电子特性而成为一种替代性二维半导体。少层黑磷的结构研究，如层数识别和原子尺度边缘结构，对充分理解其电子和光学性质至关重要。本文报道了利用像差校正透射电子显微镜(TEM)对少层黑磷进行的原子尺度分析。我们通过TEM成像和图像模拟建立了少层黑磷的层数依赖的原子分辨率成像。电子束引起的结构修饰导致晶化边缘的显现和黑磷纳米带的形成。黑磷的原子分辨率成像清晰显示了重构的锯齿形(ZZ)边缘结构，这也得到了关于边缘稳定性的范德瓦耳斯第一性原理计算的支持。我们对黑磷厚度的精确识别和边缘结构的原子分辨率成像的研究，将为少层黑磷尤其是纳米结构形式黑磷的研究奠定基础。
引用
@article{arxiv.1701.09038,
title = {Atomic-scale imaging of few-layer black phosphorus and its reconstructed edge},
author = {Yangjin Lee and Jun-Yeong Yoon and Declan Scullion and Jeongsu Jang and Elton J G Santos and Hu Young Jeong and Kwanpyo Kim},
journal= {arXiv preprint arXiv:1701.09038},
year = {2017}
}
备注
20 pages, 6 figures