Cu/V纳米复合线中变形诱导界面混合的原子尺度表征
材料科学
2009-07-10 v1
摘要
采用高分辨透射电子显微镜和原子探针断层扫描技术，对冷拉拔加工的Cu/V纳米复合线的微观结构进行了研究。实验数据清晰地揭示了当钒丝被纳米化时，存在变形诱导的界面混合。混合层是fcc Cu相中一个2纳米宽的钒梯度层。这种机械混合导致了钒丝的局部断裂和溶解，以及在fcc Cu中形成了钒过饱和固溶体。
引用
@article{arxiv.0907.1400,
title = {Atomic scale characterization of deformation induced interfacial mixing in a Cu/V nanocomposite wire},
author = {Xavier Sauvage and Cécile Genevois and Gérald Da Costa and Viktor Pantsyrny},
journal= {arXiv preprint arXiv:0907.1400},
year = {2009}
}