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AS400-DET:基于深度学习模型的IBM i(AS/400)检测

计算机视觉与模式识别 2025-10-02 v2 人工智能

摘要

本文提出了一种用于IBM i系统(原名且仍更常被称为AS/400)的自动GUI组件检测方法。我们引入了一个由1050张系统屏幕图像组成的人工标注数据集,其中381张图像是IBM i系统屏幕的日语截图。每张图像包含多个组件,包括文本标签、文本框、选项、表格、说明、键盘和命令行。然后,我们基于最先进的深度学习模型开发了一个检测系统,并使用我们的数据集评估了不同方法。实验结果证明了我们的数据集在构建从GUI屏幕进行组件检测的系统方面的有效性。通过自动从屏幕检测GUI组件,AS400-DET有潜力对通过GUI屏幕运行的系统执行自动化测试。

关键词

引用

@article{arxiv.2506.13032,
  title  = {AS400-DET: Detection using Deep Learning Model for IBM i (AS/400)},
  author = {Thanh Tran and Son T. Luu and Quan Bui and Shoshin Nomura},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2506.13032},
  year   = {2025}
}

备注

Published at the IVSP 2025 conference