一种硅微条束流位置监测器的架构
仪器与探测器
2011-01-27 v1 高能物理 - 实验
摘要
费米实验室与中国科学院高能物理研究所（IHEP）合作，为 IHEP 的测试束流设施开发了一台束流位置监测器。该望远镜基于 5 个间距为 60 微米的硅微条探测器站构成。探测器每层的总有效面积约为 12x10 平方厘米。微条的读出通过使用安装在定制混合印刷电路板上的 VA1` 专用集成电路（ASIC）实现，并通过覆铜聚酰亚胺柔性电路连接到适配卡。适配卡对信号进行放大和电平移位，以便输入到费米实验室的 CAPTAN 数据采集节点进行数据读出和通道配置。这些节点通过千兆以太网链路将触发事件的读出数据和温度数据传输到分析计算机。
引用
@article{arxiv.1010.5991,
title = {Architecture of a Silicon Strip Beam Position Monitor},
author = {R. Angstadt and W. Cooper and M. Demarteau and J. Green and S. Jakubowski and A. Prosser and R. Rivera and M. Turqueti and M. Utes and Xiao Cai},
journal= {arXiv preprint arXiv:1010.5991},
year = {2011}
}
备注
Submitted to TWEPP 2010