反铁磁半导体中的反常光谱效应
材料科学
2025-02-10 v2
摘要
继最近在反铁磁六方 MnTe 薄膜中观察到反常霍尔效应之后，有限频率下的相关现象引起了关注。磁圆二色性（MCD）是此处的关键材料性质。在 X 射线波段，X 射线磁圆二色性（XMCD）已被证明并用于通过光电子显微镜（PEEM）观察磁畴。在此，我们报告了光学波段的 MCD 并讨论了其微观机制。
引用
@article{arxiv.2411.11673,
title = {Anomalous Spectroscopical Effects in an Antiferromagnetic Semiconductor},
author = {Michal Hubert and Tomáš Maleček and Kyo-Hoon Ahn and Martin Míšek and Jakub Železný and František Máca and Gunther Springholz and Martin Veis and Karel Výborný},
journal= {arXiv preprint arXiv:2411.11673},
year = {2025}
}
备注
paper associated with presentation at 36th ICPS, Ottawa