自旋量子比特退相干时间相对于外加磁场方向的各向异性

电子自旋量子比特是实现量子计算的一种有前景的平台。环境噪声通过限制量子比特弛豫时间($T_1$)和退相位时间($T_{\phi}$)来阻碍相干操作。此类噪声有多种来源,因此设计能够探测这些噪声源的空间位置并确定其类型的实验技术十分重要。在本文中,我们提出,$T_1$和$T_{\phi}$相对于外加磁场方向的各向异性可以揭示噪声在这些方面的诸多信息。我们研究了假想器件中电荷噪声、倏逝波约翰逊噪声和超精细噪声的各向异性模式。要从此技术中获得最大收益,必须对一个表征相当充分的样品进行测量。我们阐明了一般的各向异性模式。针对一个特定的Si/SiGe量子点器件模型,我们计算了预期的各向异性。