高迁移率二维异质结构中的各向异性无序及其与电子输运的关联
介观与纳米尺度物理
2009-10-31 v2
摘要
高迁移率异质结构的表面形貌被研究并与直流输运相关联。所有被研究的样品均显示出[10]方向的线条，其粗糙度从小振幅特征到严重的各向异性脊状结构不等。这些样品中的输运与具有人工诱导的一维电荷调制的样品一致。固有的表面性质反映了一种普遍存在的、影响二维电子导电的各向异性无序。重要的是，本征线条与理论上为解释高朗道能级输运各向异性而提出的条纹正交。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0007134,
title = {Anisotropic Disorder in High Mobility 2D Heterostructures and its Correlation to Electron Transport},
author = {R. L. Willett and J. W. P. Hsu and D. Natelson and K. W. West and L. N. Pfeiffer},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0007134},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 4 color figures; reduced length, softened conclusions