用于新硬X射线任务的硬X射线光学器件在SPring-8的角分辨率测量
天体物理仪器与方法
2015-09-14 v1
摘要
实现在硬X射线波段（>10 keV）具有成像能力的X射线望远镜，需要采用具有浅掠射角（<0.25度）的光学系统，以增强反射涂层的反射率。另一方面，为获得较大的集光面积，需要大口径镜面（<350 mm）。这意味着必须制造并测试焦距>10 m的镜面。此类镜面的全照测试通常利用地面X射线设施进行，旨在测量其有效面积和角分辨率；然而，它们通常受到X射线源有限距离的影响，例如双反射有效面积的损失。这些效应随被测镜面焦距的增加而增强；因此“部分”全照测量可能无法完全代表在轨性能。实际上，可采用笔形光束测试来克服这一缺陷，因为每次仅有一个扇区暴露于X射线通量下，且通过倾斜光学器件来补偿光束发散。本工作中，我们展示了在 SPring-8 同步辐射设施的 BL20B2 光束线上进行的硬X射线测试活动的结果，旨在表征由镍电铸制造的多层镀膜 Wolter-I 镜壳的点扩散函数（PSF）。该镜壳是 NHXM 硬X射线成像望远镜（0.3 - 80 keV）的演示样机，其预测半能量宽度（HEW）接近 20 角秒。我们展示了在 15 至 63 keV 单色X射线能量下重建的一些 PSF，并将其与根据测试后计量数据计算的 PSF 进行比较，采用基于菲涅尔衍射理论的方法自洽地处理轮廓与粗糙度数据。建模与实测 PSF 准确吻合。
引用
@article{arxiv.1509.03478,
title = {Angular resolution measurements at SPring-8 of a hard X-ray optic for the New Hard X-ray Mission},
author = {D. Spiga and L. Raimondi and A. Furuzawa and S. Basso and R. Binda and G. Borghi and V. Cotroneo and G. Grisoni and H. Kunieda and F. Marioni and H. Matsumoto and H. Mori and T. Miyazawa and B. Negri and A. Orlandi and G. Pareschi and B. Salmaso and G. Tagliaferri and K. Uesugi and G. Valsecchi and D. Vernani},
journal= {arXiv preprint arXiv:1509.03478},
year = {2015}
}