CuO_2 平面中 Cu 和 O 光电子强度的角分辨研究
强关联电子
2009-10-31 v1 超导电性
摘要
利用铜氧化物超导体三带扩展 Hubbard 模型到广义 t-J 模型的映射，并对后者在 4x4 团簇上进行精确对角化，我们确定了具有确定波矢 k 的 Cu 或 O 电子被移除时的准粒子权重。我们还推导了一个近似但准确的解析表达式，将 O 强度与广义 t-J 模型中的准粒子权重联系起来，并利用它从自洽玻恩近似的结果中获得了 O 强度。Cu 和 O 强度的 k 依赖性显著不同。特别是，O 强度在 k=(0,0) 处消失。我们的结果对角分辨光电子发射实验的解释具有重要意义。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9812325,
title = {Angle resolved Cu and O photoemission intensities in CuO_2 planes},
author = {J. M. Eroles and C. D. Batista and A. A. Aligia},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9812325},
year = {2009}
}
备注
8 pages, 3 figures, submitted to Phys. Rev. B