有质量赝自旋-1 费米子的 Andreev 反射

我们从理论上研究了具有 $\pm U$ 型或 $S_z$ 型质量项的赝自旋-1 Dirac 费米子的 Andreev 反射。对于 $\pm U$ 型费米子,发现斜入射时的 Andreev 反射概率甚至可大于正入射时。对于逆反射,此种斜入射增强发生于 $n$ 掺杂 $+U$ 型($p$ 掺杂 $-U$ 型)有质量费米子系统中。而对于镜面反射,增强发生于 $n$ 掺杂 $-U$ 型($p$ 掺杂 $+U$ 型)系统中。对于 $S_z$ 型有质量费米子,预测在入射能量等于超导能隙的未掺杂结中会呈现全角度单位效率的超 Andreev 反射。