基于三维结构光照强度关联显微镜的超分辨分析
光学
2018-10-08 v2
摘要
强度关联显微镜(ICM)以反聚束显微镜或超分辨光学涨落成像(SOFI)而著称,通过对独立量子发射体的反聚束或闪烁荧光团的时序涨落进行关联分析来提供超分辨。对于关联阶数 ,信号中的点扩散函数(PSF)被有效地取 次幂,从而直接按因子 收缩。结合去卷积可获得接近因子 的线性分辨率提升。然而,高阶关联分析具有挑战性,这限制了可实现的分辨率。在此我们提出使用三维结构光照以及 阶关联分析,以获得高达 的增强标度。包含斯托克斯位移或等离激元亚波长照明可实现超越 的增强。因此,在全三维成像中远小于衍射极限的分辨率有可能仅用低关联阶数即可实现。由于 ICM 在线性 regime 下工作,我们的方法对于在低照明水平下增强生物成像分辨率可能特别有前景。
引用
@article{arxiv.1806.00643,
title = {Analysis of superresolution via 3D structured illumination intensity correlation microscopy},
author = {Anton Classen and Joachim von Zanthier and Girish S. Agarwal},
journal= {arXiv preprint arXiv:1806.00643},
year = {2018}
}
备注
revised version