一种用于极紫外与软 X 射线脉冲聚焦表征与优化的简易技术
光学
2022-05-17 v1 加速器物理
摘要
对于极紫外（XUV）和 X 射线脉冲的许多应用而言，小的聚焦尺寸对于达到所需的强度或空间分辨率至关重要。在本文中，我们提出了一种以 1.85 微米分辨率表征 XUV 焦点的简单方法。此外，该技术被应用于测量和优化由高次谐波产生的、光子能量范围从 18 到 150 eV 的椭球镜的聚焦。我们预期该方法在从高次谐波源到同步辐射再到自由电子激光的亚微米分辨率广泛应用。
引用
@article{arxiv.2205.07600,
title = {An easy technique for focus characterization and optimization of XUV and soft x-ray pulses},
author = {A. A. Muschet and A. De Andres and N. Smijesh and L. Veisz},
journal= {arXiv preprint arXiv:2205.07600},
year = {2022}
}
备注
9 pages, 6 figures