X射线衍射显微术中辐射损伤所致分辨率极限的评估
光学
2009-04-16 v1 材料科学
摘要
X射线衍射显微术（XDM）是一种新兴的X射线成像形式，已在若干第三代同步辐射X射线装置上开展。尽管该技术自首次提出仅过去五年，已在展示高分辨率三维成像方面取得快速进展，并有望以比透射电子显微镜可成像大得多的样品实现数纳米分辨率。XDM兼具生命与材料科学应用，预计其主要分辨率限制对生命科学为辐射损伤，对材料科学为可用X射线源的相干功率。本文探讨辐射损伤的作用。我们基于Hegerl与Hoppe的所谓“剂量分拆定理”进行统计分析，计算以给定分辨率对生命科学样品成像XDM所需剂量。我们得出结论：所需剂量随分辨率的四次方反比缩放，并给出支持该发现的实验证据。为确定最大耐受剂量，我们汇集了文献中若干数据及自身一些测量，覆盖了文献报道尚不充分的分辨率范围。本研究的初步结论是，XDM应能以“Rose判据”图像质量对冷冻水合蛋白质样品成像，分辨率约10 nm。
引用
@article{arxiv.physics/0502059,
title = {An assessment of the resolution limitation due to radiation-damage in x-ray diffraction microscopy},
author = {M. R. Howells and T. Beetz and H. N. Chapman and C. Cui and J. M. Holton and C. J. Jacobsen and J. Kirz E. Lima and S. Marchesini and H. Miao and D. Sayre and D. A. Shapiro and J. C. H. Spence},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0502059},
year = {2009}
}
备注
9 pages, 4 figures