面向先进技术晶体管的尺寸依赖有效热导率 ab initio 数据集
材料科学
2025-05-13 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
随着晶体管尺寸缩小和功率密度增加，热仿真已成为器件设计程序中不可或缺的环节。然而，现有工作在先进技术晶体管上使用简化的经验模型来计算有效热导率。本文提供了一个来自 ab initio 计算的尺寸依赖有效热导率数据集。本文提供了八种半导体材料（Si、Ge、GaN、AlN、4H-SiC、GaAs、InAs、BAs）和四种金属材料（Al、W、TiN、Ti）的平面内和平面外绝对热导率数据，特征长度范围为 5 到 50 纳米。除了绝对值外，还提供了归一化的有效热导率，以防在未来需要使用更新的 bulk 热导率时使用。本文 presenting 的数据集 openly 可在 https://doi.org/10.57760/sciencedb.j00113.00154 获取。
关键词
引用
@article{arxiv.2501.15736,
title = {An ab initio dataset of size-dependent effective thermal conductivity for advanced technology transistors},
author = {Han Xie and Ru Jia and Yonglin Xia and Lei Li and Yue Hu and Jiaxuan Xu and Yufei Sheng and Yuanyuan Wang and Hua Bao},
journal= {arXiv preprint arXiv:2501.15736},
year = {2025}
}