分段同轴高纯锗探测器中的α事件与表面表征
仪器与探测器
2018-01-30 v2 高能物理 - 实验
摘要
本文对真同轴高纯锗探测器端板钝化层上的α相互作用进行了详细研究。在此类表面上观测到α事件表明，所谓的“死层”厚度出乎意料地薄，小于 20 {\mu}m。此外，还讨论了靠近端板的金属化层对输出脉冲时间演化的影响。结果表明，α污染可能导致被误认为无中微子双β衰变信号的事件，并为此类问题的预防提供了一些指导。
引用
@article{arxiv.1611.00165,
title = {Alpha-event and surface characterisation in segmented true-coaxial HPGe detectors},
author = {Iris Abt and Lucia Garbini and Chris Gooch and Sabine Irlbeck and Xiang Liu and Matteo Palermo and Oliver Schulz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1611.00165},
year = {2018}
}
备注
14 pages, 14 figures, published in Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A