半柔性聚合物束的聚集与结构相变：一种编织电路拓扑方法

我们提出一种编织电路拓扑框架，用于研究半柔性聚合物聚集体中的拓扑与结构相变。在常规电路拓扑方法中（专门适用于单条孤立折叠线性链），折叠链电路内的接触数目与排列产生日益复杂的折叠拓扑。实现复杂性的另一途径是通过两条或多条折叠线性链的相互作用与纠缠。编织电路拓扑方法描述了此类多链系统的拓扑，并提供了如缠绕数、复杂度、编织长度与同痕类等地拓扑度量。这一将电路拓扑推广至多链的工作揭示了塌缩、聚集与纠缠之间的相互作用。本文中，我们表明电路拓扑基序分数作为表征纠缠系统中结构相变的序参数极为合适，其能探测其他度量无法检测的结构重排。