探讨表面粗糙度对epsilon-near-zero衬底的影响
光学
2023-03-09 v1 应用物理
摘要
Epsilon-near-zero（ENZ）介质因其反常的波现象和增强的非线性响应而被积极研究。然而，ENZ介质的技术影响将由现实ENZ材料的质量决定，包括材料损耗与表面粗糙度。在此，我们提供关于表面粗糙度对ENZ衬底影响的全面实验研究。利用具有人工诱导粗糙度的碳化硅（SiC）衬底，我们分析了粗糙度从几纳米到数百纳米尺度的样品。结论是，具有几纳米尺度粗糙度的ENZ衬底会受到与纵向声子耦合及垂直于表面的强ENZ场的不利影响。另一方面，当粗糙度处于数百纳米尺度时，发现ENZ带比介电带与表面声子极化激元（surface phonon polariton, SPhP）带更为稳健。
引用
@article{arxiv.2303.04580,
title = {Addressing the impact of surface roughness on epsilon-near-zero substrates},
author = {David Navajas and José Manuel Pérez-Escudero and Iñigo Liberal},
journal= {arXiv preprint arXiv:2303.04580},
year = {2023}
}