亚稳态的活化衰变：小耗散与大耗散下的瞬态时间

本文考虑了热活化衰变率的随时间演化。这种演化对于文献中近期讨论的纳米尺度实验尤为重要，其中势垒相对较低（或温度相对较高）。单分子拉伸便是此类实验的一个例子。本工作通过计算机求解随机（朗之万）方程对衰变过程进行建模。总共获取并分析了约一百个高精度衰变率。这些衰变率在位于远屏障之外的吸收点处记录，以排除背散射对准稳态衰变率数值的影响。我们提取了瞬态时间，即衰变率达到其准稳态值一半所需的时间间隔。瞬态时间对阻尼参数的依赖关系与逆准稳态衰变率的相应关系进行了比较。提出并分析了两个逼近数值衰变率时间依赖关系的解析公式。