强欠掺杂 La$_{2-x}$Sr$_{x}$CuO$_{4}$ 单晶的 ab 面电阻及可能的电荷条纹有序

我们使用交流 Vander Pauw 技术测量了 La$_{2-x}$Sr$_x$CuO$_4$ 单晶中小 Sr 含量 (x=0.052 $\div$ 0.075) 在 4.2 到 300 K 范围内的 ab 面电阻。正如 Ichikawa 等人最近建议的那样，$\rho_{\mathrm{ab}}(T)$ 曲线在温度 T$_{\mathrm{ch}}$ 开始偏离线性可解释为预形成的电荷条纹涨落逐渐减缓。条纹的电子相对于更有序的相的转变可能负责超导样品中 $\rho_{\mathrm{ab}}(T)$ 刚上方 $T_{\mathrm{c}}$ 所出现的一些尖锐异常。