基于线性时序逻辑的不可靠传感器离散事件系统诊断统一框架
系统与控制
2022-04-28 v1 系统与控制
摘要
本文研究了受不可靠传感器影响的部分观测离散事件系统（DES）的可诊断性验证问题。在此设定下，每次事件发生时，由于测量噪声或可能的传感器故障，传感器读数可能是不确定的。现有关于此主题的工作主要考虑特定类型的不可靠传感器，例如间歇性传感器故障、永久性传感器故障或其组合。在这项工作中，我们为DES提出了一种新颖的统一框架，不仅适用于传感器故障，也适用于一类非常普遍的不可靠传感器。我们的方法是使用具有无限轨迹语义的线性时序逻辑（LTL）来描述传感器的可能行为。我们提出了一个新的概念——-可诊断性，作为当传感器行为满足LTL公式时诊断器存在的充要条件。我们提供了验证此概念的有效方法。我们证明，我们新的-可诊断性概念包含了所有现有的关于受传感器故障影响的DES鲁棒可诊断性概念。此外，所提出的框架是用户友好且灵活的，因为它支持基于特定应用场景的任意用户自定义不可靠传感器类型。作为示例，我们利用我们的统一框架提供了两个在文献中从未被研究过的新的可诊断性概念。
引用
@article{arxiv.2204.13057,
title = {A Uniform Framework for Diagnosis of Discrete-Event Systems with Unreliable Sensors using Linear Temporal Logic},
author = {Weijie Dong and Xiang Yin and Shaoyuan Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:2204.13057},
year = {2022}
}