Athena X-IFU 探测与读出链路的测试平台
天体物理仪器与方法
2021-07-09 v1 仪器与探测器
摘要
我们提出一个用于 Athena X-IFU 探测链的测试平台，它将作为 X-IFU 代表性端到端探测与读出链路的首次演示，使用未来飞行电子设备的原型与当前可用的子系统。该测试台位于商用两级 ADR 低温恒温器中，包括放置于 ADR 50 mK 冷级上的焦平面阵列，其由千像素级 transition-edge sensor 微热量计光谱仪阵列及相关的冷端读出电子学组成。X-IFU 的室温电子学原型提供读出，并将随时间演进以更接近 X-IFU 任务基线。该测试台对子系统设计与接口（特别是温端读出电子学）提供关键反馈，并将提供一个内部探测系统，用于温端读出电子学的持续测试与开发以及 X 射线校准源的验证。在本文中，我们描述测试台子系统与设计、低温恒温器表征以及项目当前状态。
引用
@article{arxiv.2107.03412,
title = {A test platform for the detection and readout chain for the Athena X-IFU},
author = {Gabriele Betancourt-Martinez and François Pajot and Sophie Beaumont and Gilles Roudil and Joseph Adams and Hiroki Akamatsu and Simon Bandler and Bernard Bertrand and Marcel Bruijn and Florent Castellani and Edoardo Cucchetti and William Doriese and Michel Dupieux and Hervé Geoffray and Luciano Gottardi and Brian Jackson and Jan van der Kuur and Mikko Kiviranta and Antoine Miniussi and Phillipe Peille and Kevin Ravensberg and Laurent Ravera and Carl Reintsema and Kazuhiro Sakai and Stephen Smith and Nicholas Wakeham and Henk van Weers and Doreen Wernicke and Michael Witthoeft},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.03412},
year = {2021}
}
备注
11 pages, 4 figures, to appear in Proc. SPIE Astronomical Telescopes and Instrumentation, 2020