重夸克标记中的拓扑顶点技术研究
高能物理 - 实验
2009-11-07 v1
摘要
我们比较了使用 SLC/SLD 实验中开发的拓扑顶点技术，对不同内半径的顶点检测器进行的重夸克标记和反标记效率。品牌标记受益于采用非常小的内半径。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0102022,
title = {A study of topological vertexing for heavy quark tagging},
author = {Toshinori Abe},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0102022},
year = {2009}
}
备注
5 pages 3 figures Latex, Presented at the 5th International Linear Collider Workshop (LCWS2000)