一种映射斯格明子材料磁感应的简化方法
材料科学
2017-06-19 v2
摘要
近年来，洛伦兹透射电子显微术 (LTEM) 帮助研究人员推进了磁性斯格明子这一新兴领域。这些由拓扑非平庸磁化纹理构成的磁性准粒子，作为低功耗存储和逻辑器件中的信息载体具有巨大的应用潜力。LTEM 是极少数能够在纳米尺度直接实空间成像磁性特征的技术之一。对于菲涅耳衬度 LTEM，强度传输方程 (TIE) 是定量重建样品厚度内局部磁感应的首选工具。通常，这种分析需要采集至少三幅图像。本文我们证明，对于包括许多斯格明子样品在内的均匀磁性薄膜，可以使用简化的 TIE 方法从单幅离焦图像定量确定磁感应。
引用
@article{arxiv.1608.06000,
title = {A streamlined approach to mapping the magnetic induction of skyrmionic materials},
author = {Jordan J. Chess and Sergio A. Montoya and Tyler R. Harvey and Colin Ophus and Simon Couture and Vitaliy Lomakin and Eric E. Fullerton and Benjamin J. McMorran},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.06000},
year = {2017}
}