角分辨光电子实验中精度优于 1 \um 的样品位置自校正系统
超导电性
2022-11-03 v1
摘要
我们展示了一种用于光电子实验的高精度样品位置自校正系统的研制。基于图像模式匹配计算的双目视觉方法实现了以优于 1 \um 的精度跟踪样品位置，该精度远小于入射激光的光斑尺寸。我们以拓扑绝缘体 BiSe 和最佳掺杂铜基超导体 \Bi 上的代表性光电子数据说明了该样品位置自校正系统的性能。我们的方法为利用激光基或空间分辨光电子系统高精度、高效率地研究量子材料中的温度依赖电子结构提供了新可能。
引用
@article{arxiv.2211.00823,
title = {A sample-position-autocorrection system with precision better than 1 \um~in angle-resolved photoemission experiments},
author = {Shaofeng Duan and Shichong Wang and Yuanyuan Yang and Chaozhi Huang and Lingxiao Gu and Haoran Liu and Wentao Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2211.00823},
year = {2022}
}
备注
6 pages, 4 figures