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d波约瑟夫森结中IcR积的定量模型

超导电性 2009-11-13 v1

摘要

我们从理论上研究了d波超导体/扩散正常金属/绝缘体/扩散正常金属/d波超导体(D/DN/I/DN/D)结中的约瑟夫森效应。该模型旨在描述高温铜氧化物超导体中的实际结,其中临界约瑟夫森电流(ICI_C)与正常态电阻(RR)的乘积(即所谓的ICRI_{\rm C}R积)远小于标准理论的预测。我们证明了D/DN/I/DN/D结中的ICRI_{\rm C}R积可以远小于d波超导体/绝缘体/d波超导体结中的相应值, 并给出了在D/DN/I/DN/D结中获得大ICRI_{\rm C}R积所需满足的条件。所提出的理论定量地描述了高温铜氧化物结中ICRI_{\rm C}R积的行为。

关键词

引用

@article{arxiv.0704.3126,
  title  = {A quantitative model for IcR product in d-wave Josephson junctions},
  author = {T. Yokoyama and Y. Sawa and Y. Tanaka and A. A. Golubov and A. Maeda and A. Fujimaki},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0704.3126},
  year   = {2009}
}

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4 pages, 6 figures

R2 v1 2026-06-29T00:07:10.293Z