τ轻子寿命的精确测量
高能物理 - 实验
2008-11-26 v1
摘要
利用DELPHI探测器在LEP上于1991-1995年收集的e+e- -> τ+τ-事件，对τ轻子寿命进行了测量。采用了三种不同的方法，涵盖了单径迹和三径迹τ衰变道。利用两个τ都衰变为单个带电粒子的事件进行了两次测量。合并这些测量结果得到τ_tau (1 prong) = 291.8 ± 2.3 (统计) ± 1.5 (系统) fs。利用τ衰变为三个带电粒子的第三次测量得到τ_tau (3 prong) = 288.6 ± 2.4 (统计) ± 1.3 (系统) fs。这些结果与之前的DELPHI结果合并，利用完整的LEP1数据样本，测得τ轻子寿命为τ_tau = 290.9 ± 1.4 (统计) ± 1.0 (系统) fs。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0410010,
title = {A Precise Measurement of the Tau Lifetime},
author = {The DELPHI Collaboration and J. Abdallah},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0410010},
year = {2008}
}
备注
27 pages, 7 figures