τ衰变中洛伦兹结构的研究

本文描述了在τ轻子衰变中Michel参数$\eta$、$\rho$、$\xi$、$\xi\delta$以及平均$\nu_{\tau}$螺旋度$h_{\nu_{\tau}}$的测量，以及弱 charged current 中张量耦合的首次测量。τ+τ-对是在1992年至1995年间在CERN的LEP e+e-对撞机上由DELPHI探测器产生的。假设τ衰变中的轻子普适性，测得的参数值为：$\eta = -0.005 +/- 0.036 +/- 0.037$，$\rho = 0.775 +/- 0.023 +/- 0.020$，$\xi = 0.929 +/- 0.070 +/- 0.030$，$\xi\delta = 0.779 +/- 0.070 +/- 0.028$，$h_{\nu_{\tau}} = -0.997 +/- 0.027 +/- 0.011$。张量耦合强度测得为$\kappa^W_\tau = -0.029 +/- 0.036 +/- 0.018$。在所有情况下，第一个误差是统计误差，第二个误差是系统误差。结果与τ轻子衰变中弱 charged current 的V-A结构一致。