Ne IX 谱线诊断的新计算
高能天体物理现象
2010-06-04 v1
摘要
我们描述了新的原子计算（包括全相对论 R-矩阵碰撞激发率计算以及能级特定的双电子复合和辐射复合率计算）对天体物理上重要的离子 Ne IX 谱线比的影响。新的激发率在最大发射率温度（4x10^6 K）或以下温度下，系统地改变了一些预测的 Ne IX 谱线比达 25%，而新的复合率则在更高温度下导致系统性变化。新的谱线比与 Capella 和 sigma^2 CrB 的观测结果吻合得显著优于旧谱线比，表明 25-30% 的原子速率精度对于现有光谱仪的高分辨率 X 射线观测是不够的。
引用
@article{arxiv.1006.0667,
title = {A New Calculation of Ne IX Line Diagnostics},
author = {Randall K. Smith and Guo-Xin Chen and Kate Kirby and Nancy S. Brickhouse},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.0667},
year = {2010}
}
备注
5 pages, 6 figures